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推薦品牌德國馬爾、日立原理其采用高能X射線轟擊樣品表面,被測樣品表面產生二次X射線(X光熒光),由于X光熒光譜線為各種元素所*,通過對X光熒光譜線的收集和分析,以其波長確定所測元素,根據其光的強度和能量可以確定鍍層的厚度
推薦品牌
德國馬爾、日立
原理
其采用高能X射線轟擊樣品表面,被測樣品表面產生二次X射線(X光熒光),由于X光熒光譜線為各種元素所*,通過對X光熒光譜線的收集和分析,以其波長確定所測元素,根據其光的強度和能量可以確定鍍層的厚度。
應用
測量鍍層厚度
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