艾博納原子力顯微鏡（AFM）維持納米研究的前沿技術，具有原子級超高分辨率，高水平的性能。可在大氣和液體環境中對樣品進行探測或進行納米操控。其測試功能強大、操作簡單，除配備接觸模式、非接觸模式、輕敲模式，也可選配用戶需要的模式。我們的系統經過專業的設計，可對測試結果進行各類數據分析，更加方便、快捷完成測試需求。
艾博納原子力顯微鏡（AFM）配備了高精度的電動X、Y、Z軸平移臺，具備滾珠絲杠和交叉滾柱導軌，確保了精確的樣品操作和定位。此外，該設備具有研究級的頂視視頻光學顯微鏡，提供清晰的樣品觀察。它還包括多個掃描儀，以優化掃描條件，支持系統的定制和擴展。設備的模塊化設計允許用戶根據需求添加額外的功能和模式，如圖像記錄器、光刻和液體掃描。簡易的探頭更換機制和激光桿的廣泛調節范圍提供了額外的操作便利。
