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日立高新掃描探針顯微鏡控制器標準配備改良過的測量參數自動調整功能,以及簡單明了的圖形用戶界面。因此,即使是剛剛接觸SPM的人,或者測量某種全新的樣品時,也能取得...
日立高新離子研磨系統ArBlade5000能夠實現高產量,并制備廣域橫截面樣品。 離子研磨系統使用通過在表面上照射氬離子束引起的濺射效應來拋光樣品的表面。樣品預...
日立高新電鏡制樣設備磁控濺射器MC1000采用了電磁管電極,能夠zui大限度地減輕對樣品的損壞,并在樣品表面涂覆一層均勻粒子。適用于高分辨率的掃描式電子顯微鏡。
日立高新離子研磨裝置IM4000(HITACHI Ion Milling System IM4000)具有斷面加工和平面研磨功能的混合儀器!HITACHI Io...
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